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MMJ-3100M 超长距金相显微镜
一、产品介绍：
MMJ-3100M工业金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为工业检测金相显微镜用户在使用时能够体验其优越性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，可观察较厚的标本。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。
二、技术参数
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项目名称 |
MMJ-3100M技术参数指标 |
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光学系统 |
无限远光学超长工作距离复消色差观察系统 |
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大视野目镜 |
WF10X/25mm |
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无穷远共轭95mm超长工作距离 复消色差金相物镜 |
5X/0.13/∞/-(共轭95mm超长工作距离) LWD 44.5MM |
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10X/0.28/∞/-(共轭95mm超长工作距离) LWD 34MM |
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20X/0..29/∞/0(共轭95mm超长工作距离) LWD 31 MM |
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50X/0.42/∞/0(共轭95mm超长工作距离) LWD20.1 MM |
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观察头 |
铰链式三目观察头，30°倾斜，瞳距50-75mm |
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反射照明 |
12V/50W卤素灯，AC85V-230V,亮度可调 |
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蓝、绿、磨砂玻璃 |
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偏光装置 |
检偏镜可360°转动，起偏镜和检偏镜均可移出光路 |
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调焦系统 |
粗、微动同轴调焦。微调格值2μm，粗动松紧调节，带限位装置，移动范围32mm |
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转换器 |
可调中心4孔转换器 |
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平台 |
底座396X276X22mm，立柱高度300mm，立柱直径30mm |
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双层移动平台，移动范围：50mm×40mm |
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平台尺寸：190mm×140mm |
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检测工具 |
0.01mm测量标尺 |
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摄像系统 |
高清630万像素工业摄像机 |
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高清成像系统软件 |
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自带测量软件，精度达1um |
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选配件 |
高清2000万像素相机，明暗场100倍金相物镜 |
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